domenica 29 maggio 2016

Nuovi FTIR JASCO Serie -X


La tecnica FTIR è di grande interesse per tanti settori industriali e di ricerca. L'emissione energetica infrarossa smaschera  i composti "nascosti". I gruppi funzionali dei composti incogniti, infatti, assorbono l'energia fornita dalla sorgente; i loro momenti dipolari si attivano con moti di stretching e bending specifici. Lo spettro di scansione che si genera è quindi l'impronta digitale della formula chimica del composto.

La fruibilità dello spettro infrarosso può essere però compromessa da vari fattori:
  • La presenza di acqua ed anidride carbonica, presenti entrambe nell'aria e nel campione: sono bipoli, per cui i loro spettri si sovrappongono a quelli dei componenti del campione.
  • La sorgente infrarossa emette perchè  termicamente attivata. Le stesse operazioni di on/off provocano escursioni di calore ed umidità nello strumento, che disturbano l'elettronica e la qualità dei dati.
  • La riproducibilità del posizionamento di ogni componente mobile del'interferometro, che modula il range spettrale.
  • Il parallelismo dei fasci luminosi, onde evitare aberrazioni, perdita di intensità e diffusione.
  • il comparto campione, che deve essere in grado di alloggiare campioni e portacampioni di ogni forma.
  • la versatilità dell'ottica ( sorgenti, beamsplitter, detector, accessori)
  • Il software deve regolare e  riconoscere automaticamente le impostazioni strumentali e consentire la deconvoluzione ed elaborazione spettrale più evoluta.

I nuovissimi banchi ottici JASCO FTIR serie-X  realizzano un compromesso tra la compattezza e le esigenze del bilanciamento energetico dell'elettronica. 
L' interferometro di Michelson è completamente termostatato, purgato e sigillato, flussabile ad azoto come gli accessori. Gli specchi ad angolo cubico dell'interferometro eliminano la deriva del segnale che causano le lenti qualora nel tempo si diseallineino.


Il sistema di gestione dell'alimentazione mantiene bassa e stabile l'energia della sorgente ceramica (patent pending), per aumentare la durata dei componenti ottici e abbattere l'umidità: questa linea si distingue per l'uso di componenti ottici di alta qualità, come le finestre in KRS-5 non igroscopiche e sistemi di auto-allineamento degli specchi.

L'interferometro è dotato di sistema brevettato di riproducibilità del posizionamento degli specchi AccuTrac DSP (Digital Signal Processing) che, insieme con l'oversampling, aumenta il rapporto S/N. La vastissima gamma di sorgenti, beamsplitter e detector innalza la linea da routine FTIR 4X ad una flessibilità tipica della strumentazione da ricerca, perchè è estendibile al FarIR e al NIR selezionando la componentistica:

Un convertitore A/D a 24 bit, un sistema elettrico a basso rumore, una sorgente luminosa ad alta intensità, un rilevatore ad alte prestazioni e un sistema ottico ad alto rendimento contribuiscono tutti a un elevato S/N di 35.000: 1, consentendo per eseguire misure di campioni di piccolo volume e misure di microscopia con alta sensibilità.La risoluzione minima di 0,4 cm-1 permette di misurare perfino lo spettro vibrazionale dei gas, ma si può regolare la risoluzione desiderata.  L'FT/IR-4X permette inoltre Rapid Scan con 80 spettri/sec. (risoluzione 16 cm-1) per poter seguire in modo affidabile i processi di reazione rapida.

Il software Spectra Manager 2.5 in modalità Start ed Expert mette le sue potenzialità a disposizione di tutta la linea degli spettrofotometri e microspettrometri JASCO.
3 anni di GARANZIA standard su laser e sorgente

Spettrometri FTIR JASCO FT/IR-6X
standard range spettrale: 7800-350 cm-1, opzional 25000-20 cm-1
risoluzione spettrale minima: 0,25cm-1, regolabile
rapporto segnale/rumore: 47000:1

Spettrometri JASCO FT/IR-8X FTIR
gamma spettrale standard: 7800-350 cm-1, opzionale 25000-20 cm-1
risoluzione spettrale: regolabile tra 0,07-16 cm-1
rapporto segnale/rumore: 55000:1

Tabella di Confronto delle Specifiche
CaratteristicaFT/IR-4XFT/IR-6XFT/IR-8X
Risoluzione Max0.4 
0.25 
0.07 
Rapporto S/N35.000:147.000:155.000:1
Range Spettrale (Std)7.800 – 350 
7.800 – 350 
7.800 – 350 
Range Spettrale (Max)11.500 – 50 
25.000 – 20 
25.000 – 20 
InterferometroMichelson 45°Michelson 28°Michelson 28°
Laser di TrackingDiodo VCSELDiodo VCSELHeNe
Opzione VuotoNoSì (Opzionale)Sì (Opzionale)
Step ScanNoNoSì (Opzionale)
Peso Approssimativo18 kg56 kg56 kg

Confrontiamo i modelli:

  • Precisione e Risoluzione: Mentre il 4X è eccellente per la maggior parte delle applicazioni standard, l'8X è indispensabile per la spettroscopia ad alta risoluzione (es. analisi dei gas o studi strutturali complessi) grazie al laser HeNe e alla meccanica superiore.
  • Espandibilità: I modelli 6X e 8X permettono di coprire un range spettrale molto più ampio (fino al visibile e all'estremo lontano IR) con il cambio automatico di beam-splitter e finestre.
  • Applicazioni Avanzate: Solo l'8X supporta nativamente lo step scan per misure risolte nel tempo (nanosecondi), rendendolo lo strumento d'elezione per la fotofisica e lo studio di reazioni dinamiche.
  • Dimensioni: Il 4X occupa una superficie significativamente ridotta rispetto ai fratelli maggiori, rendendolo più adatto a laboratori con spazio limitato

Differenza tra l'interferometro di Michelson a 28° e quello a 45° 
Principalmente, la differenza tra i due interferometri risiede nell'efficienza ottica e nel "throughput" (quantità di luce che attraversa il sistema). Mentre l'angolo a 45° è lo standard classico, JASCO utilizza il design a 28° nei modelli di fascia alta per massimizzare le prestazioni.l'interferometro a 45° della serie 4X offre prestazioni eccellenti per la routine e la ricerca standard, mentre quello a 28° delle serie 6X/8X è una scelta tecnica avanzata per chi necessita della massima energia possibile sul campione e della massima versatilità spettrale.Ecco le differenze tecniche principali:
Efficienza del Beam Splitter e Polarizzazione
  • Interferometro a 28° (Serie 6X/8X): A questo angolo di incidenza ridotto, le polarizzazioni "S" e "P" della luce infrarossa convergono verso l'angolo di Brewster. Questo riduce drasticamente le perdite per riflessione indesiderata e bilancia meglio la divisione del fascio, garantendo un rapporto segnale/rumore (S/N) superiore e una maggiore efficienza energetica.
  • Interferometro a 45° (Serie 4X): È la configurazione più comune e "naturale" dal punto di vista geometrico (i due bracci dell'interferometro sono a 90° tra loro). Tuttavia, a 45° il beam splitter è più sensibile agli effetti di polarizzazione, il che può limitare leggermente la trasmissione totale di energia rispetto al design a basso angolo.
High Throughput
  • L'interferometro a 28° è ottimizzato per applicazioni ad alta sensibilità e per l'utilizzo di accessori complessi (come detector esterni o celle a lungo cammino ottico). La minore inclinazione permette di gestire fasci di luce più ampi con meno aberrazioni, facilitando la copertura di un range spettrale esteso dal lontano IR al visibile.
Stabilità e Risoluzione

  • Il design a 28° è tipicamente associato ai modelli con risoluzione spettrale più spinta (fino a 0.07 nel modello FT/IR-8X). La geometria del blocco ottico nei modelli 6X e 8X è studiata per minimizzare le deviazioni del cammino ottico durante il movimento dello specchio, spesso integrando specchi corner-cube per l'auto-allineamento permanente. 



Il JASCO IRT-5X è un microscopio FTIR di nuova generazione, progettato per integrarsi perfettamente con gli spettrometri della serie X (4X, 6X e 8X). È uno strumento estremamente versatile che combina un'elevata risoluzione ottica con una grande semplicità d'uso, rendendolo ideale sia per l'identificazione di contaminanti che per l'imaging di campioni complessi.
Ecco le caratteristiche principali che lo distinguono:
1. Tecnologia IQ Mapping
Questa è una delle funzioni più innovative di JASCO. Consente di effettuare mappature multi-punto, linee o aree senza muovere il tavolino porta-campioni.
  • Utilizza uno specchio a scansione interno per spostare il fascio IR sul campione.
  • Permette analisi rapide e precise su un'area fino a 
     con l'obiettivo standard 16x.
2. Sistema di Visualizzazione Avanzato
  • Fotocamera da 5 MP: Offre immagini del campione ad alta risoluzione per individuare facilmente i punti di interesse.
  • IQ Monitor: Permette di osservare simultaneamente l'immagine visibile del campione e lo spettro IR durante la misura, garantendo che il punto analizzato sia quello corretto.
  • Auto-focus: Incluso di serie, facilita la messa a fuoco anche su campioni difficili come celle a incudine di diamante o piastre di KBr.
3. Flessibilità e Detector
  • Fino a 4 detector: Il sistema può ospitare fino a quattro detector contemporaneamente.
  • IQ Duo MCT: Un detector opzionale che integra due elementi (mid-band e narrow-band) nello stesso contenitore (Dewar), permettendo di passare da uno all'altro via software senza interventi manuali.
  • Altezza Campione: Supporta campioni in riflessione con uno spessore fino a 40 mm, molto utile per oggetti ingombranti che non entrerebbero in microscopi standard.
4. Specifiche Tecniche in Sintesi
  • Modalità di Misura: Trasmissione, Riflessione e Micro-ATR.
  • Obiettivi: Torretta automatica che può ospitare fino a 4 obiettivi (Cassegrain 16x standard; opzionali 10x, 32x e ATR in Diamante o Germanio).
  • Tavolino: XYZ motorizzato di serie con risoluzione di 1 micron.

 







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