JASCO ARMV studio di Riflettanza e Trasmittanza Assoluta in luce polarizzata/non

Il Sistema di Misurazione di Riflettanza Assoluta JASCO ARMV automatizza la misura delle proprietà spettrali, dello spessore di campioni solidi e film sottili al variare dell'angolo di incidenza e di raccolta del segnale. Accoppiato con lo spettrofotometro JASCO V-770 UV -Vis / NIR,  il sistema permette di spaziare dalla regione degli ultravioletti al vicino infrarosso, consentendo di effettuare misurazioni complesse con bassissima rumorosità di fondo ed eccellente stabilità fotometrica. 

E' possibile impostare gli angoli di incidenza e di raccolta del campione facendo ruotare contemporaneamente sia il campione che la sfera di integrazione, in modalità sincrona.
In alternativa, gli angoli di incidenza e di raccolta possono essere impostati indipendentemente, in modalità asincrona. E' possibile studiare le proprietà di polarizzazione di un campione  impostando la polarizzazione S o P oppure l'angolo di polarizzazione desiderato.
Sono disponibili vari accessori portacampione ed una unità per 
I controlli degli angoli di incidenza e di raccolta e la polarizzazione vengono tutti effettuati da PC con la piattaforma software Spectra Manager II™ Suite.